LEHRSTUHL

THEORETISCHE

ELEKTROTECHNIK

Influence of the gas bubble using of (Micro)PECMM (Micro-Pulse ElectroChemical MicroMachining)

Schulze, Hans-Peter; Schätzing, Wolfgang; Gmelin, Thomas; Leone, Marco

In: INSECT 2011, International Symposium on ElectroChemical Machining Technology , 2011 - Düsseldorf : Univ., S. 76-81

Modeling the electromagnetic behavior of parallel-plane interconnections

Leone, Marco; Friedrich, Matthias

In: International Conference on Electromagnetics in Advanced Applications (ICEAA), 2011. - Piscataway, NJ : IEEE, S. 1396-1399Kongress: ICEAA; 13 (Torino, Italy) : 2011.09.12-16

Publikationslink

Effiziente EMV-Modellbildung und -Simulation komplexer, leistungselektronischer Systeme

Thamm, Sven; Leone, Marco; Omar, Abbas S.; Omar, Abbas

In: Zugl.: Magdeburg, Univ., Fak. für Elektrotechnik und Informationstechnik, Diss., 2011: Barleben: docupoint-Verl., XXII, 141 S., Ill., graph. Darst., 21 cm

Entwurf und Optimierung von Messverfahren zur Bestimmung von elektromagnetischen Materialparametern

Anis, Michael; Omar, Abbas; Leone, Marco

In: Zugl.: Magdeburg, Otto-von-Guericke-Univ., Fak. für Elektrotechnik und Informationstechnik, Diss., 2011: München: Verl. Dr. Hut, 1. Aufl., XI, 165 S., Ill., graph. Darst. - (Messtechnik)

Inductive network model for the radiation analysis of electrically small parallel-plate structures

Friedrich, Matthias; Leone, Marco

In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility. - New York, NY : IEEE, insges. 10 S., 2011

Publikationslink

Nahfeld-Immunitätsprüfung auf Leiterplatten- und IC-Ebene

Kröning, Oliver; Leone, Marco

In: SMT. - Ingelheim : SMT-Verl, Bd. 24.2011, 3, S. 44-47

Validation of the MoM simulation model for GTEM including pyramid absorber

Al-Hamid, Moawia; Schulze, Steffen; Vick, Ralf; Leone, Marco

In: EMC Europe 2010 . - Piscataway, NJ : IEEE, ISBN 978-83-7493-426-8, S. 603-608Kongress: EMC Europe 2010; 9 (Wroclaw) : 2010.09.13-17

Nearfield-immunity scan on printed circuit board level with suitable calibration method

Kröning, Oliver; Krause, Mario; Leone, Marco

In: EMC Europe 2010: 9th international symposium on EMC joint with 20th international Wroclaw symposium on EMC - Piscataway, NJ: IEEE . - 2010, S. 217-222Kongress: EMC Europe 2010 9 (Wroclaw : 2010.09.13-17)

Network model for the analysis of radiated emissions from horizontal PCB submodules

Friedrich, Matthias; Leone, Marco

In: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC 2010 ; July 25 - 30, 2010, Fort Lauderdale, USA - Piscataway, NJ: IEEE . - 2010, S. 631-636Kongress: IEEE EMC (Fort Lauderdale, Florida : 2010.07.25-30)

Efficient macromodeling of power-bus structures based on 2D-integral equation approach

Leone, Marco; Kröning, Oliver

In: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility: EMC 2010 ; July 25 - 30, 2010, Fort Lauderdale, USA - Piscataway, NJ: IEEE . - 2010, S. 390-395Kongress: IEEE EMC (Fort Lauderdale, Florida : 2010.07.25-30)

Nearfield-immunity scan on printed circuit board level

Kröning, Oliver; Krause, Mario; Leone, Marco

In: 14th IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects: May 09 - 12, 2010, Hildesheim, Germany ; proceedings - Piscataway, NJ: IEEE . - 2010, S. 101-102Kongress: SPI 14 (Hildesheim : 2010.05.09-12)

Network modeling of vertical signal interconnections in parallel reference plane structures on printed circuit boards

Friedrich, Matthias; Mantzke, Andreas; Leone, Marco

In: 14th IEEE Workshop on Signal Propagation on Interconnects: May 09 - 12, 2010, Hildesheim, Germany ; proceedings - Piscataway, NJ: IEEE . - 2010, S. 7-8Kongress: SPI 14 (Hildesheim : 2010.05.09-12)

Study of the process accuracy of the electrochemical micro machining using ultra nanosecond and short microsecond pulses

Schulze, Hans-Peter; Ruszaj, Adam; Gmelin, Thomas; Kozak, Jerzy; Borkenhagen, Dirk; Leone, Marco; Skoczypiec, Sebastian

In: Proceedings of the 16th International Symposium on Electromachining. - Harmony Shanghai, S. 651-656, 2010Kongress: International Symposium on Electromachining; 16 (Shanghai) : 2010.04.19-23

Nahfeld-Immunitätsprüfung auf Leiterplatten- und IC-Ebene

Kröning, Oliver; Leone, Marco

In: Elektromagnetische Verträglichkeit: EMV 2010 ; Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit 09.-11.März 2010 - Berlin [u.a.]: VDE Verl., 2010 . - 2010, S. 145-152Kongress: EMV 2010 (Düsseldorf : 2010.03.09-11)

Specification on the pulse energy sources of the micromachining using micro-pulse electrochemical machining ([my]PECM)

Schulze, Hans-Peter; Burkert, Stephan; Borkenhagen, Dirk; Gmelin, Thomas; Leone, Marco

In: Proceedings of the 16th International Symposium on Electromachining. - Harmony Shanghai, S. 641-646, 2010Kongress: International Symposium on Electromachining; 16 (Shanghai) : 2010.04.19-23

Erweitertes MoM-Simulationsmodell für GTEM-Zellen unter Berücksichtigung des Wandabsorbers

Al-Hamid, Moawia; Schulze, Steffen; Vick, Ralf; Leone, Marco

In: Elektromagnetische Verträglichkeit . - Berlin [u.a.] : VDE Verl., ISBN 978-3-8007-3206-7, S. 371-378, 2010Kongress: EMV 2010; (Düsseldorf) : 2010.03.09-11

Effiziente 2-D Integralgleichungsmethode zur Analyse von Power-Bus Strukturen auf Leiterplatten

Friedrich, Matthias; Stumpf, Martin; Leone, Marco

In: Elektromagnetische Verträglichkeit: EMV 2010 ; Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit 09.-11.März 2010 - Berlin [u.a.]: VDE Verl., 2010 . - 2010, S. 577-584Kongress: EMV 2010 (Düsseldorf : 2010.03.09-11)

Modeling a Power MOSFET for EMC analysis

Thamm, Sven; Leone, Marco

In: ISTET 2009/ ISTET - Berlin [u.a.]: VDE-Verl. . - 2009, S. 366-369Kongress: ISTET 2009 15 (Lübeck : 2009.06.22-24)

Power-bus modeling using 2d-integral-equation formulation

Stumpf, M.; Kröning, Oliver; Leone, Marco

In: Proceedings of the 20th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, EMC-Zurich 2009 - Zürich . - 2009, S. 189-192Kongress: EMC Zurich 2009 20 (Zurich : 2009.01.12-16)

Adapted process energy sources for the pulsed ElectroChemical MicroMachining (PECMM)

Schulze, Hans-Peter; Skoczypiec, Sebastian; Burkert, Stefan; Gmelin, Thomas; Ruszaj, Adam; Leone, Marco

In: Proceedings/ International Symposium on ElectroChemical Machining Technology - Stuttgart: Fraunhofer-Verl.; Michaelis, Alexander . - 2009, S. 101-107 - (Applied electrochemistry in material science; publication series; 1)Kongress: INSECT (Dresden : 2009.10.26-27)

Analysis of transmission line coupling with a near-field excitation

Leseigneur, Christelle; Kröning, Oliver; Fernandez Lopez, P.; Baudry, D.; Louis, A.; Leone, Marco

In: 7th International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, EMC Compo 2009 - Toulouse . - 2009, insges. 5 S.Kongress: EMC Compo Workshop 7 (Toulouse : 2009.11.17-10)

Nahfeld-Immunitätsprüfung auf Leiterplatten- und IC-Ebene

Kröning, Oliver; Leone, Marco

In: Symposium EME 2009 "Elektromagnetische Effekte" - Mannheim: BAkWVT . - 2009, insges. 17 S.

Comparison of two different simulation algorithms for the electromagnetic tube compression

Bartels, Guido; Schätzing, Wolfgang; Scheibe, Hans-Jürgen; Leone, Marco

In: Proceedings of the 12th International ESAFORM Conference on Material Forming, ESAFORM 2009 . - Enschede, insges. 4 S.Kongress: ESAFORM; 12 (Enschede) : 2009.04.27-29

The pulse electrochemical micromachining (PECMM) - Specifications of the pulse units

Schulze, Hans-Peter; Burket, Stefan; Gmelin, Th.; Leone, Marco

In: Proceedings of the 12th International ESAFORM Conference on Material Forming, ESAFORM 2009 . - Enschede, insges. 4 S.Kongress: ESAFORM; 12 (Enschede) : 2009.04.27-29[Minisymposium MS13 - Nonconventional processes]

Efficient 2-d integral equation approach for the analysis of power bus structures with arbitrary shape

Stumpf, M.; Leone, Marco

In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility: a publication of the IEEE, Electromagnetic Compatibility Society/ Institute of Electrical and Electronics Engineers - New York, NY: Inst., Bd. 51 (2009), 1, S. 38-45

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The pulse electrochemical micromachining (PECMM) - specifications of the pulse units

Burkert, Stephan; Schulze, Hans-Peter; Gmelin, Thomas; Leone, Marco

In: International journal of material forming: official journal of the European Scientific Association for Material FORMing (ESAFORM) - Paris ˜[u.a.]œ: Springer, 2.2009, Suppl. 1, S. 645-648

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Semiconductor macromodeling for power electronic applications

Thamm, Sven; Leone, Marco

In: EMC Europe <8, 2008, Hamburg> : EMC Europe 2008 . - [Piscataway, NJ] : IEEE, ISBN 978-1-424-42737-6, S. 41-46Kongress: EMC Europe 2008; 8 (Hamburg) : 2008.09.08-12

Modeling the skin effect in the time domain for the simulation of circuit interconnects

Magdowski, Mathias; Kochetov, Sergey; Leone, Marco

In: EMC Europe <8, 2008, Hamburg> : EMC Europe 2008 . - [Piscataway, NJ] : IEEE, ISBN 978-1-424-42737-6, S. 659-669Kongress: EMC Europe 2008; 8 (Hamburg) : 2008.09.08-12

Models for electromagnetic metal forming

Bartels, Guido; Schätzing, Wolfgang; Scheibe, Hans-Jürgen; Leone, Marco

In: High speed forming 2008 . - Dortmund : IUL, ISBN 3-9809535-3-X, S. 121-128Kongress: ICHSF 2008; 3 (Dortmund) : 2008.03.11-12

Generalized PEEC method based on dyadic Green's functions in time and frequency domain

Kochetov, Sergey V.; Leone, Marco

In: EMC Europe <8, 2008, Hamburg> : EMC Europe 2008 . - [Piscataway, NJ] : IEEE, ISBN 978-1-424-42737-6, S. 647-652Kongress: EMC Europe 2008; 8 (Hamburg) : 2008.09.08-12

Simulation models of the electromagnetic forming process

Bartels, Guido; Schätzing, Wolfgang; Scheibe, Hans-Jürgen; Leone, Marco

In: Proceedings of the 2nd Euro-Asian Pulsed Power Conference, EAPPC 2008 . - ISL, insges. 4 S.Kongress: EAPPC 2008; 2 (Vilnius, Lithuania) : 2008.09.22-26

Effiziente Zeitbereichsimulation von Crosstalk auf Leiterplatten mit der PEEC-Methode

Kochetov, Sergey V.; Leone, Marco

In: Elektromagnetische Verträglichkeit . - Berlin [u.a.] : VDE-Verl., ISBN 3-8007-3075-8, S. 555-562, 2008Kongress: EMV 2008; (Düsseldorf) : 2008.02.19-21

Abschirmung niederfrequenter Magnetfelder in Hochstromanwendungen

Bartels, Guido; Döbbelin, Reinhard; Herms, Ronny; Leone, Marco; Lindemann, Andreas

In: Elektromagnetische Verträglichkeit: EMV 2008, Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, 19. - 21. Februar 2008, Messe Düsseldorf / Karl-Heinz Gonschorek. Veranst.: MESAGO-Messe-Frankfurt GmbH, Stuttgart: EMV 2008, Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit: EMV 2008, Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, 19. - 21. Februar 2008, Messe Düsseldorf / Karl-Heinz Gonschorek. Veranst.: MESAGO-Messe-Frankfurt GmbH, Stuttgart, 19. - 21. Februar 2008, Messe Düsseldorf - Berlin [u.a.]: VDE-Verl., 2008 . - 2008, S. 671-678Kongress: EMV 2008 (Düsseldorf : 2008.02.19-21)

Neue Formulierung der PEEC-Methode mit dyadischen Greenschen Funktionen für die Simulation von Verbindungsstrukturen in geschichteten Medien

Kochetov, Sergey V.; Leone, Marco; Wollenberg, G.

In: Elektromagnetische Verträglichkeit . - Berlin [u.a.] : VDE-Verl., ISBN 3-8007-3075-8, S. 547-554, 2008Kongress: EMV 2008; (Düsseldorf) : 2008.02.19-21

Makromodellierung leistungselektronischer Bauelemente für die effiziente EMV-Simulation komplexer Systeme

Thamm, Sven; Leone, Marco

In: Elektromagnetische Verträglichkeit . - Berlin [u.a.] : VDE-Verl., ISBN 3-8007-3075-8, S. 129-136, 2008Kongress: EMV 2008; (Düsseldorf) : 2008.02.19-21

Netzwerkmodell für die Strahlungsanalyse von horizontalen Leiterplatten-Submodulen

Leone, Marco

In: Elektromagnetische Verträglichkeit . - Berlin [u.a.] : VDE-Verl., ISBN 3-8007-3075-8, S. 137-144, 2008Kongress: EMV 2008; (Düsseldorf) : 2008.02.19-21

PEEC-models based on dyadic green's functions for structures in layered media

Kochetov, Sergey V.; Wollenberg, Günter; Leone, Marco

In: 7th International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Electromagnetic Ecology/ International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Electromagnetic Ecology - [St. Petersburg, Russia]: [Discone-Centre Ltd. c/o St. Petersburg State Electrotechnical University LETI] . - 2007, S. 179-182Kongress: EMC 7 (Saint-Petersburg : 2007.06.26-29)

Alternative peec modeling with partial reluctances and capacitances for power electronics applications

Thamm, Sven; Kochetov, Sergey V.; Wollenberg, Günter; Leone, Marco

In: The proceedings - Piscataway, NJ: IEEE Operations Center . - 2007, S. 56-59Kongress: EMC 7 (Saint-Petersburg : 2007.06.26-29)

PEEC modeling for EMC-relevant simulations of power electronics

Thamm, Sven; Kochetov, Sergey V.; Wollenberg, Günter; Leone, Marco

In: 2007 17th International Conference Radioelektronika: Brno, Czech Republic, 24 - 25 April 2007 / IEEE - Piscataway, NJ: IEEE Service Center . - 2007, insges. 5 S.Kongress: International Conference Radioelektronika 17 (Brno : 2007.04.24-25)

Improvement of the hole and micro hole sinkings using a hybrid maching process

Schulze, Hans-Peter; Burkert, Stephan; Wollenberg, Günter; Leone, Marco

In: Proceedings of the 20th International Conference on Computer-Aided Production Engineering (CAPE 2007), 6-8 June 2007, Glasgow, Scotland, UK/ International Conference on Computer Aided Production Engineering - Glasgow: Glasgow Caledonian University . - 2007, S. 162-166Kongress: CAPE 2007 (Glasgow, Scotland, UK : 2007.06.06-08)

Fuentes de alimentación de electroerosión - aplicaciones y propuestas

Casanueva, Rosario; Schulze, Hans-Peter; Azcondo, F. J.; Leone, Marco

In: Proceedings of the 2nd Manufacturing Engineering Society International Conference - Madrid . - 2007, insges. 8 S.Kongress: CISIF'07 (Madrid : 2007.07.09-11)

Alternative peec modeling with partial reluctances and capacitances for power electronics applications

Thamm, Sven; Kochetov, Sergey V.; Wollenberg, Guenter; Leone, Marco

In: 7th International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Electromagnetic Ecology/ International Symposium on Electromagnetic Compatibility and Electromagnetic Ecology - [St. Petersburg, Russia]: [Discone-Centre Ltd. c/o St. Petersburg State Electrotechnical University LETI] . - 2007, S. 56-59Kongress: EMC 7 (Saint-Petersburg : 2007.06.26-29)

Full-spectrum convolution macromodeling for the full-wave PEEC method

Kochetov, Sergey V.; Wollenberg, Günter; Leone, Marco

In: 23th Annual Review of Progress in Applied Computational Electromagnetics - ACES . - 2007, S. 1413-1418Kongress: Annual Review of Progress in Applied Computational Electromagnetics 23 (Verona, Italy : 2007.03.19-23)

Closed-form expressions for the electromagnetic radiation of microstrip signal traces

Leone, Marco

In: IEEE transactions on electromagnetic compatibility: a publication of the IEEE, Electromagnetic Compatibility Society/ Institute of Electrical and Electronics Engineers - New York, NY: Inst., Bd. 49 (2007), 3, S. 322-328

Publikationslink

Estimation of radiated fields of small horizontal submodules based on a lumped-element model

Válek, Martin; Leone, Marco

In: Radioengineering. - Prague, Bd. 15.2007, 4, S. 9-15

Simulation of thermal effects for electrical discharge machining

Schulze, Hans-Peter; Leone, Marco; Kröning, Oliver; Schätzing, Wolfgang

In: Nonconventional technologies review . - Ia¸si : Ed. PIM, 1, S. 103-108, 2007

EMV-gerechtes Board-Design - Entwurf gegen Abstrahlung

Hoffmann, Detlef; Leone, Marco

In: Design & Elektronik - Haar, München: WEKA-Fachmedien, Bd. 6 (2007), S. 78-80